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更新時間:2025-09-25
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Autoscan裂(lie)變徑(jing)跡(ji)定(ding)年(nian)及(ji)分(fen)析(xi)系統生產(chan)於奧大(da)利(li)亞,品牌(pai):Autoscan,這款(kuan)設備能(neng)在(zai)短(duan)時(shi)間內(nei)測出裂變(bian)徑(jing)跡(ji)年(nian)份(fen),根(gen)據(ju)共生有機(ji)質(zhi)碎(sui)屑的鏡(jing)煤反(fan)射(she)率值(zhi)判(pan)定(ding)磷灰(hui)石(shi)是(shi)否(fou)已(yi)經歷高(gao)溫重置過(guo)程(cheng),采用(yong)的是(shi)高清晰(xi)度(du)、高分(fen)辨率(lv)、高(gao)質量的(de)圖(tu)像(xiang),可(ke)自動識(shi)別(bie)圖(tu)像(xiang)位置,全(quan)視(shi)野實(shi)時無延遲預覽,能(neng)與調(tiao)焦(jiao)機構連接(jie),實(shi)現完(wan)善的自動Z軸自動聚焦(jiao),分(fen)辨率(lv)小(xiao)於25nm。
設備優勢:
1、全(quan)自動研究(jiu)級(ji)顯(xian)微鏡(jing)技(ji)術(shu);
2、增(zeng)強短(duan)波(bo)長的透(tou)過(guo)率(lv),並且增(zeng)強反差(cha);
3、高精(jing)度(du)掃描(miao)載物臺:高(gao)精(jing)度(du)3軸壓電(dian)驅(qu)動含位置編碼;
4、物鏡(jing)高(gao)精(jing)度(du)新標準EC物鏡(jing),鍍(du)膜防黴(mei);
5、圖(tu)像(xiang)采集(ji)原(yuan)廠工業(ye)級(ji)高分(fen)辨率(lv)彩(cai)色CCD或(huo)CMOS;
6、可(ke)開展的(de)研究(jiu)項目(mu)盆-山耦合關(guan)系研究(jiu);
7、同(tong)步捕(bu)捉圖(tu)像(xiang),傳(chuan)輸(shu)速(su)度(du)快,同(tong)步顯(xian)示,圖(tu)像(xiang)連(lian)續(xu);
8、能(neng)與調(tiao)焦(jiao)機構連接(jie),實(shi)現完(wan)善的自動Z軸自動聚焦(jiao);
9、在(zai)傳(chuan)統(tong)的(de)平(ping)場(chang)半復消(xiao)色差(cha)物鏡(jing)的(de)基礎上進(jin)壹步(bu)校(xiao)正(zheng)色差(cha)和(he)無應變。
Autoscan裂變徑(jing)跡(ji)定(ding)年(nian)及(ji)分(fen)析(xi)系統在(zai)安(an)裝(zhuang)方(fang)面(mian)是(shi)非(fei)常(chang)簡(jian)單(dan),在(zai)使用(yong)方(fang)面(mian)也(ye)是(shi)極其的明了(le),沒(mei)有復(fu)雜的操(cao)作流(liu)程(cheng), 配有1.6X中(zhong)間變(bian)倍(bei)器裝置(zhi),物鏡(jing)轉換器采用(yong)的是(shi)7孔(kong)對(dui)中(zhong)物鏡(jing)轉換器含位置編碼,物鏡(jing)均可對(dui)中(zhong)調(tiao)節,增(zeng)加標準放(fang)大(da)倍(bei)數(shu)空(kong)間,這(zhe)款(kuan)設備在(zai)運用(yong)的基礎上性(xing)能(neng)是非(fei)常穩定(ding)的,誤(wu)差(cha)率(lv)也比(bi)較低,安(an)全(quan)性(xing)做(zuo)的(de)比(bi)較到位,符(fu)合行業(ye)的使用(yong)標準,硬件(jian)設備配備的(de)也(ye)相(xiang)當(dang)的(de)硬核(he)。

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