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RESOlution 全(quan)自(zi)動(dong)激(ji)光(guang)剝(bo)蝕進(jin)樣系統(tong)激(ji)光剝蝕(shi)樣品池(chi)具有與早(zao)期的M50A樣品池(chi)相同(tong)的優異功能(neng),同時具有超過六(liu)倍(bei)的可(ke)及(ji)面積(ji),S155樣品池(chi)附(fu)帶三個樣品支架。這三個支架可(ke)以(yi)從通用支(zhi)架,全(quan)薄片支(zhi)架,全(quan)圓(yuan)形樣品靶支架以(yi)及(ji)薄片和(he)圓(yuan)形樣品靶組(zu)合支架中根(gen)據需(xu)要(yao)選(xuan)擇(ze),該(gai)設(she)備(bei)既支(zhi)持(chi)手動(dong)選(xuan)擇(ze)測試(shi)點(dian),也(ye)可(ke)實(shi)現數千個(ge)樣品點(dian)的(de)無(wu)人(ren)值守(shou)全(quan)自(zi)動(dong)運(yun)行(xing),具有圖像導入(ru)功能(neng)的軟(ruan)件(jian),有助(zhu)於識(shi)別(bie)樣品中的(de)復(fu)雜結(jie)構,如包裹(guo)體(ti)和(he)增(zeng)生區,在(zai)低重復(fu)率下(xia)實(shi)現完美的(de)信(xin)號(hao)平(ping)滑(hua)而不過度(du)延長沖洗時間(jian)或(huo)引(yin)起記(ji)憶效應(ying),這款設(she)備(bei)屬(shu)於(yu)易(yi)於(yu)操(cao)作(zuo),用戶培(pei)訓耗(hao)時短,使(shi)用(yong)方便(bian),經濟實(shi)用(yong)。
設(she)備(bei)優勢(shi):
1、可(ke)靠(kao)的氣體處(chu)理(li)和(he)優異的(de)激光剝(bo)蝕性(xing)能(neng);
2、可(ke)以(yi)同時裝載薄片和(he)圓(yuan)形樣品靶的組(zu)合支架也(ye)供(gong)選(xuan)擇(ze);
3、具有與早(zao)期的M50A樣品池(chi)相同(tong)的優異功能(neng);
4、通用(yong)支(zhi)架是靈活的(de)支(zhi)架,可(ke)以(yi)裝載任意(yi)尺寸的樣品靶;
5、旋轉(zhuan)矩形狹縫(feng),用於(yu)帶狀樣品的動(dong)態(tai)高(gao)分辨率追(zhui)蹤;
6、有離線(xian)分析點(dian)選(xuan)取(qu)功能(neng)的軟(ruan)件(jian),提(ti)高(gao)儀器(qi)使用(yong)效率;
7、易(yi)於(yu)掌握,用戶培(pei)訓耗(hao)時短,使(shi)用(yong)方便(bian)。

RESOlution 全(quan)自(zi)動(dong)激(ji)光(guang)剝(bo)蝕進(jin)樣系統(tong)集(ji)成了(le)193nm準分子激(ji)光剝(bo)蝕(shi)取(qu)樣系統(tong),真空(kong)(UHV)樣品池(chi)和(he)3He/4He質譜(pu)儀(如右(you)圖所示),與ICP-MS聯(lian)機 的(de)RESOchron使研究人(ren)員(yuan)能夠,在單(dan)壹(yi)礦物(wu)上快(kuai)速(su)測定(U-Th)/Pb和(he)(U-Th-Sm)/ He年(nian)齡(ling),用於(yu)批量分析、靈敏(min)度(du)以及(ji)精細表面和(he)薄膜樣品的分析,采用(yong)排氣(qi)閥導流不(bu)需要(yao)的燒(shao)蝕(shi)材(cai)料(liao),以減(jian)少對(dui)ICP的保(bao)養,如更(geng)少量的(de)錐體清(qing)洗(xi),為用(yong)戶提(ti)供(gong)高(gao)度(du)標(biao)準的分析能(neng)力,GeoStar為(wei)實(shi)現*自(zi)動(dong)化工作(zuo)設(she)計,但(dan)也同(tong)時提(ti)供(gong)手動(dong)逐(zhu)點(dian)剝(bo)蝕(shi)功能(neng)。

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