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廠商性(xing)質(zhi):生產(chan)廠家
更(geng)新(xin)時間(jian):2025-09-25
訪(fang) 問(wen) 量(liang):1836
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RESOChron雙(shuang)年代測試系(xi)統(tong)激光剝(bo)蝕(U-Th)/He熱(re)年代學(xue)可(ke)以獲得(de)精(jing)確(que)定(ding)義(yi)的(de)、無(wu)缺(que)陷的晶(jing)體體積,具(ju)有(you)已(yi)知的(de)表面積,從而克(ke)服(fu)了(le)傳(chuan)統(tong)的(de)單顆(ke)粒(li)晶(jing)體測量(liang)方(fang)法(fa)的(de)兩個不確(que)定(ding)性(xing),能(neng)夠(gou)對多(duo)個礦(kuang)物顆(ke)粒(li)進(jin)行(xing)快(kuai)速的、自(zi)動化的U-Th-Pb-He分(fen)析,允許(xu)在工業和學(xue)術(shu)研(yan)究(jiu)中(zhong)更(geng)快(kuai)、更(geng)便(bian)宜(yi)和常規(gui)地應用雙(shuang)測年,該系統(tong)壹(yi)種*的儀器,能(neng)夠(gou)進(jin)行(xing)礦(kuang)物的(de)U-Th-Pb-He三重(zhong)測年和(he)微量(liang)元(yuan)素表征(zheng),通(tong)過(guo)ICP-MS 測量(liang)Pb,U和Th以得(de)到U-Pb年齡(ling)。
產(chan)品優(you)勢(shi):
1、在分(fen)析(xi)過(guo)程(cheng)中(zhong)避(bi)免礦(kuang)物或(huo)氣(qi)體包裹(guo)體;
2、相對於傳統(tong)方(fang)法(fa),提(ti)高了(le)精(jing)確(que)度(du)和(he)準(zhun)確(que)度(du);
3、提(ti)供單顆(ke)粒(li)的(de)地(di)質年代學(xue)年齡(ling)、熱(re)年代學(xue)年齡(ling)和(he)微(wei)量(liang)元(yuan)素分析(xi)大(da)量(liang)礦(kuang)物顆(ke)粒(li)的(de)快(kuai)速測年;
4、不需(xu)要(yao)alpha校(xiao)正(能夠(gou)分析(xi)測量(liang)小的(de)礦(kuang)物顆(ke)粒(li));
5、不需(xu)要(yao)進(jin)行(xing)危(wei)險(xian)和(he)耗時的礦(kuang)物溶解(jie)(HF);
6、可(ke)實(shi)現礦(kuang)物剖(pou)面(mian)的(de)氦(hai)含量(liang)分析(xi)。
RESOchron方(fang)法(fa):
RESOchron是壹(yi)個集(ji)成(cheng)的(de)、原(yuan)位的、計(ji)算(suan)機(ji)控制(zhi)的微(wei)區(qu)分(fen)析儀器,能(neng)夠(gou)對多(duo)個礦(kuang)物顆(ke)粒(li)進(jin)行(xing)快(kuai)速的、自(zi)動化的U-Th-Pb-He分(fen)析,通(tong)過(guo)光學(xue)幹(gan)涉測量(liang)、X射線(xian)顯(xian)微(wei)層(ceng)析(xi)或掃描電(dian)子顯(xian)微(wei)鏡測量(liang)剝(bo)蝕坑(keng)體積。
RESOChron雙(shuang)年代測試系(xi)統(tong)主(zhu)要(yao)應用市(shi)場包(bao)括石(shi)油(you)和(he)礦(kuang)產(chan)勘探領(ling)域。此外(wai)在學(xue)術(shu)研(yan)究(jiu)(例如(ru)構(gou)造(zao)地質學(xue)和(he)地形(xing)演化研(yan)究(jiu))和需(xu)要(yao)經濟(ji)地分(fen)析(xi)大(da)量(liang)樣(yang)品(pin)(例如(ru)區域(yu)盆(pen)地分(fen)析(xi),地(di)球化學(xue)勘(kan)查(zha))的(de)政府地球科(ke)學(xue)機(ji)構(gou)均(jun)有應(ying)用前(qian)景(jing),相對於傳統(tong)方(fang)法(fa),提(ti)高了(le)精(jing)確(que)度(du)和(he)準(zhun)確(que)度(du),不需(xu)要(yao)alpha校(xiao)正(能夠(gou)分析(xi)測量(liang)小的(de)礦(kuang)物顆(ke)粒(li)),在工業和學(xue)術(shu)研(yan)究(jiu)中(zhong)更(geng) 快(kuai)、更(geng)便(bian)宜(yi)和常規(gui)地應用雙(shuang)測年,提(ti)供單顆(ke)粒(li)的(de)地(di)質年代學(xue)年齡(ling)、熱(re)年代學(xue)年齡(ling)和(he)微(wei)量(liang)元(yuan)素分析(xi)。

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