IPHT炭(tan)黑(hei)粒(li)子(zi)強(qiang)度(du)分(fen)析(xi)儀，HITEC 制(zhi)造的(de)炭(tan)黑(hei)粒(li)子(zi)強(qiang)度(du)分(fen)析(xi)儀IPHT是用(yong)來測定(ding)造(zao)粒(li)炭(tan)黑(hei)的(de)粒(li)子(zi)破(po)碎強(qiang)度(du)的(de)儀器(qi)。

HITEC 制(zhi)造的(de)IPHT炭(tan)黑(hei)粒(li)子(zi)強(qiang)度(du)分(fen)析(xi)儀是用(yong)來測定(ding)造(zao)粒(li)炭(tan)黑(hei)的(de)粒(li)子(zi)破(po)碎強(qiang)度(du)的(de)儀器(qi)。它(ta)是(shi)根(gen)據(ju)標(biao)準(zhun)ASTM D5230和標(biao)準(zhun)ASTM D3313制(zhi)造的(de)。炭(tan)黑(hei)粒(li)子(zi)強(qiang)度(du)分(fen)析(xi)儀測試(shi)系(xi)統為(wei)生(sheng)產過程(cheng)中(zhong)的(de)質(zhi)量(liang)控(kong)制(zhi)和產(chan)品(pin)的(de)開發提供(gong)了強(qiang)有(you)力的(de)手(shou)段(duan)。
 
測試(shi)數(shu)據(ju)：測(ce)試每(mei)個(ge)顆(ke)粒(li)的(de)硬(ying)度(du)、直(zhi)徑
 
結構緊(jin)湊(cou)：體積很小，放在桌子(zi)上即(ji)可操(cao)作。
 
運(yun)行方式(shi)：可以(yi)采(cai)用(yong)手動方式(shi)單個(ge)進行測試(shi)；也(ye)可以按(an)照(zhao)設(she)定(ding)的(de)數(shu)量(liang)連續(xu)的(de)自動進行測試(shi)，並計(ji)算(suan)和統(tong)計(ji)出測量(liang)結果。
 
運(yun)行環境：單顆(ke)粒(li)強(qiang)度(du)測(ce)試(shi)儀可以(yi)在粉(fen)塵環境下測(ce)量(liang)。 但配(pei)套的(de)計(ji)算(suan)機(ji)要(yao)求在(zai)清潔的(de)環境下運(yun)行。
 
減震要(yao)求：特別設(she)計(ji)的(de)減震臺面(mian) IPHT-DTBL被要(yao)求安(an)裝在測試系(xi)統的(de)底(di)部(bu)，以減少(shao)外界振(zhen)動產生(sheng)的(de)幹擾。這個(ge)設備(bei)是我們非常(chang)推(tui)薦用(yong)戶使(shi)用的(de)壹(yi)個(ge)關鍵設(she)備(bei)。
 
取樣器(qi)：IPHT-RASB隨(sui)機(ji)取樣臺有(you)14樣品(pin)工位，這是(shi)壹(yi)個(ge)用戶可(ke)選的(de)設(she)備(bei)，可以隨(sui)時裝上或隨時移(yi)開。但它對(dui)於(yu)測(ce)試(shi)的(de)樣品(pin)數(shu)量(liang)比較大的(de)客(ke)戶是(shi)非常(chang)有(you)用的(de)。它(ta)采(cai)用(yong)氣(qi)動和步(bu)進(jin)電機驅動的(de)自動工作方式(shi)，工作時需(xu)要(yao)接(jie)通(tong)大約(yue)6公(gong)斤左(zuo)右的(de)壓縮(suo)空氣(qi)。 甚(shen)至在(zai)測試過程(cheng)中(zhong)也(ye)可以添(tian)加(jia)測(ce)試樣品(pin)，修(xiu)改(gai)測試(shi)順(shun)序等。
 
與(yu)計(ji)算(suan)機(ji)的(de)連接(jie)：主(zhu)系(xi)統IPHT-BASU與(yu)計(ji)算(suan)機(ji)通(tong)過串口(kou)或(huo)局域(yu)網(wang)聯(lian)接(jie)，通(tong)過串口(kou)每(mei)臺計(ji)算(suan)機(ji)可以連接(jie)4臺測試(shi)系(xi)統。
 
數(shu)據(ju)處(chu)理(li)軟件：涵(han)蓋(gai)了ASTM標(biao)準(zhun)中(zhong)規定(ding)的(de)所有(you)測試(shi)要(yao)求，這個(ge)軟件系(xi)統對(dui)過程(cheng)數(shu)據(ju)進(jin)行測量(liang)和計(ji)算(suan)。根(gen)據(ju)ASTM D5230 和 D3313規定(ding)。該(gai)儀器(qi)可(ke)采(cai)用(yong)恒定(ding)壓迫(po)速度(du)測(ce)試方(fang)式（ASTM D5230） 和恒(heng)定(ding)壓迫(po)力(li)量（ASTM D3313）測試(shi)方式。

IPHT炭(tan)黑(hei)粒(li)子(zi)強(qiang)度(du)分(fen)析(xi)儀