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更新時(shi)間:2025-09-22
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HITEC 制(zhi)造的(de)炭(tan)黑單顆粒強(qiang)度(du)分(fen)析儀(yi)IPHT是用來(lai)測(ce)定(ding)造粒炭(tan)黑的(de)粒子破(po)碎強(qiang)度(du)的(de)儀器(qi)。它是根據標準ASTM D5230和(he)標準ASTM D3313制(zhi)造的(de)。炭(tan)黑單顆粒強(qiang)度(du)分(fen)析儀(yi)測試(shi)系統為(wei)生產(chan)過程中(zhong)的(de)質(zhi)量控(kong)制和(he)產(chan)品(pin)的(de)開(kai)發提供(gong)了強(qiang)有(you)力的(de)手段(duan)。
測試(shi)數(shu)據:測(ce)試每個(ge)顆粒的(de)硬度(du)、直(zhi)徑
結(jie)構緊(jin)湊(cou):體(ti)積(ji)很(hen)小(xiao),放(fang)在(zai)桌(zhuo)子上(shang)即可(ke)操(cao)作(zuo)。
運(yun)行(xing)方式(shi):可(ke)以(yi)采用手動方式(shi)單個(ge)進(jin)行測(ce)試;也(ye)可(ke)以(yi)按(an)照(zhao)設定(ding)的(de)數(shu)量(liang)連續的(de)自動進(jin)行測(ce)試,並(bing)計(ji)算(suan)和統計(ji)出測量(liang)結果(guo)。
運(yun)行(xing)環(huan)境:單顆粒強(qiang)度(du)測(ce)試(shi)儀可(ke)以(yi)在(zai)粉(fen)塵環(huan)境下測量。 但(dan)配套(tao)的(de)計(ji)算(suan)機要求在(zai)清潔的(de)環(huan)境下運(yun)行(xing)。
減(jian)震(zhen)要(yao)求(qiu):特(te)別設(she)計(ji)的(de)減震(zhen)臺面(mian) IPHT-DTBL被(bei)要求(qiu)安裝(zhuang)在(zai)測(ce)試(shi)系統的(de)底(di)部(bu),以(yi)減(jian)少(shao)外界振(zhen)動產生的(de)幹(gan)擾(rao)。這個(ge)設備是我們非(fei)常(chang)推薦用戶使(shi)用的(de)壹個(ge)關鍵(jian)設(she)備(bei)。
取(qu)樣器(qi):IPHT-RASB隨機取樣臺有(you)14樣品(pin)工(gong)位,這(zhe)是壹個用戶可(ke)選(xuan)的(de)設備(bei),可(ke)以(yi)隨時(shi)裝(zhuang)上(shang)或隨時(shi)移開(kai)。但(dan)它對(dui)於(yu)測試(shi)的(de)樣品(pin)數(shu)量(liang)比(bi)較(jiao)大(da)的(de)客(ke)戶(hu)是非(fei)常(chang)有(you)用的(de)。它采用氣(qi)動和步(bu)進(jin)電(dian)機驅(qu)動的(de)自動工(gong)作方式(shi),工(gong)作時(shi)需要接通(tong)大(da)約6公(gong)斤左(zuo)右的(de)壓縮(suo)空氣(qi)。 甚至(zhi)在(zai)測(ce)試過(guo)程中(zhong)也(ye)可(ke)以(yi)添加測試樣(yang)品,修改(gai)測(ce)試順序等(deng)。
與計(ji)算(suan)機的(de)連接(jie):主(zhu)系統(tong)IPHT-BASU與計(ji)算(suan)機通過串(chuan)口(kou)或局(ju)域(yu)網(wang)聯(lian)接(jie),通過(guo)串(chuan)口(kou)每臺計(ji)算(suan)機可(ke)以(yi)連(lian)接(jie)4臺測(ce)試(shi)系統(tong)。
數(shu)據處(chu)理(li)軟(ruan)件(jian):涵蓋了ASTM標準中(zhong)規(gui)定(ding)的(de)所有(you)測試(shi)要求,這個軟件(jian)系(xi)統對過(guo)程數(shu)據進(jin)行測(ce)量和(he)計(ji)算(suan)。根據ASTM D5230 和(he) D3313規(gui)定(ding)。該(gai)儀(yi)器(qi)可(ke)采用恒(heng)定(ding)壓迫(po)速(su)度(du)測(ce)試方式(shi)(ASTM D5230) 和(he)恒(heng)定(ding)壓迫(po)力量(ASTM D3313)測(ce)試方式(shi)。
| 采用標準 | 電(dian)力要求 | 測試(shi)力(li)的(de)範(fan)圍(wei) | 精(jing)度(du) | 顆粒的(de)大(da)小(xiao) | 精度 | 步(bu)進(jin)電(dian)機zui小(xiao)行進(jin)距離 | 壓縮(suo)方式(shi) | 取(qu)樣(yang)器(qi) |
| ASTM D5230,D3313 | 單相(xiang) 220/240V 50Hz,110v 60hz | 0-300g | +/- 1g | 0.8-3 mm | +/- 0.02 | 0.001172 | 恒(heng)定(ding)速(su)度(du)壓(ya)縮 ASTM D5230恒(heng)定(ding)壓力(li)壓縮(suo) ASTM D3313 | 隨機的(de)14個工(gong)位取(qu) |

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