HITEC 制(zhi)造(zao)的(de)炭(tan)黑(hei)粒子(zi)強(qiang)度(du)分析(xi)儀(yi)IPHT是(shi)用(yong)來(lai)測定造(zao)粒炭(tan)黑(hei)的(de)粒子(zi)破碎強(qiang)度的(de)儀(yi)器(qi)。它是(shi)根(gen)據(ju)標(biao)準ASTM D5230和標(biao)準ASTM D3313制(zhi)造(zao)的(de)。

HITEC 制(zhi)造(zao)的(de)炭(tan)黑(hei)粒子(zi)強(qiang)度(du)分析(xi)儀(yi)IPHT是(shi)用(yong)來(lai)測定造(zao)粒炭(tan)黑(hei)的(de)粒子(zi)破碎強(qiang)度的(de)儀(yi)器(qi)。它是(shi)根(gen)據(ju)標(biao)準ASTM D5230和標(biao)準ASTM D3313制(zhi)造(zao)的(de)。炭(tan)黑(hei)粒子(zi)強(qiang)度(du)分析(xi)儀(yi)測(ce)試(shi)系統為(wei)生(sheng)產過程(cheng)中(zhong)的(de)質(zhi)量(liang)控(kong)制(zhi)和(he)產品的(de)開發提(ti)供了(le)強有力(li)的(de)手段。
測試(shi)數據(ju)：測(ce)試(shi)每(mei)個顆(ke)粒(li)的(de)硬度(du)、直徑(jing)
結構緊(jin)湊(cou)：體(ti)積(ji)很(hen)小，放(fang)在桌子(zi)上(shang)即(ji)可(ke)操(cao)作。
運(yun)行(xing)方(fang)式：可(ke)以采用手動方式單個(ge)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)；也可(ke)以按(an)照設定的(de)數量(liang)連(lian)續(xu)的(de)自(zi)動(dong)進(jin)行(xing)測(ce)試(shi)，並(bing)計算和統(tong)計出(chu)測量(liang)結果(guo)。
運行(xing)環(huan)境(jing)：單顆(ke)粒(li)強度(du)測試儀(yi)可(ke)以在粉塵環(huan)境(jing)下(xia)測量(liang)。 但(dan)配(pei)套的(de)計算機要求在清(qing)潔的(de)環境(jing)下(xia)運行(xing)。
減震(zhen)要求：特(te)別(bie)設計的(de)減震(zhen)臺(tai)面(mian) IPHT-DTBL被(bei)要求安(an)裝(zhuang)在測試(shi)系統的(de)底部(bu)，以減少外界(jie)振動產生(sheng)的(de)幹擾。這個設備是(shi)我們(men)非(fei)常推(tui)薦用(yong)戶使(shi)用的(de)壹個(ge)關鍵設備。
取(qu)樣器(qi)：IPHT-RASB隨機(ji)取(qu)樣臺(tai)有(you)14樣品(pin)工(gong)位，這(zhe)是(shi)壹(yi)個(ge)用(yong)戶可(ke)選的(de)設備，可(ke)以隨(sui)時(shi)裝(zhuang)上或隨時(shi)移(yi)開。但它(ta)對(dui)於(yu)測(ce)試(shi)的(de)樣品(pin)數量(liang)比(bi)較(jiao)大(da)的(de)客(ke)戶是(shi)非(fei)常有(you)用(yong)的(de)。它采用氣動和步(bu)進(jin)電機(ji)驅動(dong)的(de)自(zi)動(dong)工(gong)作方(fang)式，工(gong)作時(shi)需(xu)要接(jie)通(tong)大(da)約6公斤左右(you)的(de)壓縮(suo)空(kong)氣。 甚(shen)至在測試(shi)過(guo)程中(zhong)也可(ke)以添(tian)加測試樣品(pin)，修改測試順(shun)序等(deng)。
與(yu)計算機的(de)連接(jie)：主系統IPHT-BASU與(yu)計算機通(tong)過串(chuan)口或局(ju)域(yu)網(wang)聯(lian)接(jie)，通(tong)過(guo)串(chuan)口每(mei)臺(tai)計(ji)算機可(ke)以連(lian)接(jie)4臺(tai)測(ce)試(shi)系統。
數據處(chu)理軟(ruan)件：涵(han)蓋了(le)ASTM標準中(zhong)規(gui)定的(de)所有測(ce)試(shi)要求，這(zhe)個(ge)軟(ruan)件系統對(dui)過程(cheng)數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)和(he)計(ji)算。根據(ju)ASTM D5230 和 D3313規(gui)定。該儀(yi)器(qi)可(ke)采用恒定壓(ya)迫速度(du)測(ce)試方式（ASTM D5230） 和恒定壓(ya)迫力(li)量(liang)（ASTM D3313）測(ce)試(shi)方(fang)式。