Alphachron He 氦同(tong)位素(su)定年四極(ji)桿(gan)質(zhi)譜(pu)儀基於(yu)LabView的功能的可(ke)視(shi)軟件(jian)包允許用戶(hu)創(chuang)建和(he)調(tiao)整(zheng)系統實驗(yan)的操(cao)作(zuo)順(shun)序，而(er)無需(xu)任(ren)何(he)先前的編程(cheng)知(zhi)識，帶(dai)有Windows計(ji)算(suan)機的計算(suan)機系統，該(gai)計(ji)算(suan)機與(yu)Alphachron數(shu)字I / O系統

Alphachron He 激光(guang)剝(bo)蝕(shi)氦(hai)提取(qu)分(fen)析(xi)系統可(ke)幫(bang)助用戶(hu)使用簡(jian)單的文本(ben)文(wen)件管(guan)理(li)實驗(yan)，在(zai)對礦(kuang)石系統的4D演化進(jin)行(xing)研究(jiu)的過(guo)程(cheng)中，發現(xian)有(you)必(bi)要(yao)開發用於(yu)快速(su)自動(dong)分析礦(kuang)物樣品(pin)的儀器(qi)，通(tong)過(guo)激光(guang)或(huo)石英(ying)-豪洛(luo)根加熱(re)提取(qu)氦(hai)氣後(hou)，母(mu)體(ti)礦(kuang)物質濃(nong)度(du)隨(sui)後(hou)通過(guo)樣(yang)品(pin)的ICP-MS分析(xi)確定。

Alphachron He 氦氣自動(dong)原(yuan)位(wei)提取(qu)與(yu)分(fen)析(xi)儀而(er)無需(xu)任(ren)何(he)先前的編程(cheng)知(zhi)識，高(gao)真(zhen)空(kong)系統，由幹式隔膜(mo)前(qian)級泵，帶(dai)控制器(qi)的混合(he)渦(wo)輪(lun)泵和帶(dai)控制器(qi)的離子(zi)泵組成，用於(yu)激光(guang)自動(dong)化，

RESOlution 激光(guang)微(wei)區原(yuan)位(wei)同(tong)位素(su)分析(xi)與定年系統豐富(fu)的樣品(pin)圖像(xiang)和(he)自動(dong)馬賽(sai)克收(shou)集將(jiang)確保您始終選(xuan)擇(ze)正確的顆 粒(li)、相(xiang)位或(huo)生(sheng)長(chang)環帶(dai)進(jin)行(xing)剝(bo)蝕(shi)

RESOlution 全自動(dong)激光(guang)剝(bo)蝕(shi)進(jin)樣系統激光(guang)剝(bo)蝕(shi)樣(yang)品(pin)池具有與早期(qi)的M50A樣品(pin)池相(xiang)同(tong)的優異(yi)功(gong)能，同(tong)時具有超過(guo)六(liu)倍的可(ke)及(ji)面(mian)積，S155樣品(pin)池附(fu)帶(dai)三個(ge)樣品(pin)支架(jia)。這(zhe)三個支架(jia)可(ke)以(yi)從(cong)通(tong)用支架(jia)，全(quan)薄片支架(jia)，全(quan)圓形樣(yang)品(pin)靶支架(jia)以(yi)及(ji)薄(bo)片和圓形樣(yang)品(pin)靶組(zu)合(he)支架(jia)中根據需(xu)要(yao)選(xuan)擇(ze)

RESOlution 激光(guang)剝(bo)蝕(shi)系統193nm準分子激光(guang)剝(bo)蝕(shi)系統擁(yong)有(you)完善(shan)的設計(ji)，使用電(dian)動離(li)軸(zhou)觀(guan)察(cha)系統和高(gao)分辨(bian)率(lv)相機(ji)對樣(yang)品(pin)池中的樣品(pin)進(jin)行(xing)成像(xiang)，豐(feng)富(fu)的樣品(pin)圖像(xiang)和(he)自動(dong)馬賽(sai)克收(shou)集將(jiang)確保您始終選(xuan)擇(ze)正確的顆 粒(li)、相(xiang)位或(huo)生(sheng)長(chang)環帶(dai)進(jin)行(xing)剝(bo)蝕(shi)

RESOChron雙年代測試(shi)系統激光(guang)剝(bo)蝕(shi)（U-Th）/He熱(re)年代學(xue)可(ke)以(yi)獲(huo)得(de)精(jing)確定義的、無缺(que)陷(xian)的晶體(ti)體(ti)積，具有已知的表面(mian)積，從(cong)而(er)克服了傳統的單顆(ke)粒(li)晶(jing)體測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)的兩個(ge)不(bu)確定性，能夠(gou)對多(duo)個礦(kuang)物顆粒(li)進(jin)行(xing)快速(su)的

J200 Femto iX LA 激光(guang)燒(shao)蝕(shi)（LA）是(shi)高(gao)度成功和久經考驗(yan)的J200 Femto LA儀器(qi)的下壹步發展(zhan)，J200 Femto LA儀器在(zai)世界上擁(yong)有(you)大的安裝量，能運(yun)輸(shu)氣體控(kong)制，自動(dong)樣品(pin)高(gao)度調節(jie)，高(gao)分辨(bian)率(lv)3D樣品(pin)臺(tai)，創(chuang)新的樣品(pin)池和(he)LIBS（激光(guang)誘(you)導擊(ji)穿光譜(pu)）附加功能，飛秒可(ke)以(yi)解決LA-ICP-MS分(fen)析(xi)的LA儀器(qi)。